Avanços no Software JST-XRD para Identificação de Fases em Materiais Policristalinos
DOI:
https://doi.org/10.5540/03.2017.005.01.0094Keywords:
Difração de Raios X, Análise de Fase Qualitativa, Polimorfos Cristalinos, Software, Lazarus.Abstract
O software JST-XRD gera imagens de difratogramas de raios X de substâncias a partir de informações de posição e intensidade dos principais picos, disponı́veis em artigos e patentes. Com o JST-XRD é possı́vel gerar difratogramas mesmo quando a estrutura cristalina da substância não está disponı́vel. Na versão atual, foi incorporado um módulo para permitir a sobreposição de vários difratogramas gerados pelo JST-XRD e o difratograma observado do material para possibilitar a sua análise. O software permite corrigir artefatos do padrão de difração como o deslocamento de amostras e erro na posição zero do detector além de permitir deslocar o difratograma verticalmente para facilitar a visualização e comparação dos difratogramas. Este software pode ser utilizado de forma geral na identificação de fases em materiais policristalinos, sendo que neste trabalho é apresentado um exemplo de identificação de polimorfos e excipientes em um comprimido de atorvastatina cálcica.